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          三院303所可靠性中心程序開發取得新進展

          發布時間:2015-06-04    信息來源: 中國航天科工三院

            近期,中國航天科工三院303所元器件可靠性中心為了解決型號用無法篩選的集成電路檢測問題,結合新引進的T2000超大規模集成電路測試系統及STS8205數?;旌想娐窚y試系統,大力加強測試程序開發工作力度。  

            中心骨干技術人員加班加點通過集成電路測試技術和測試方法研究,不斷的學習摸索,突破測試難點。同時積極進行測試適配器的設計與制作,從電路系統原理圖的輸入、數字、模擬及混合電路仿真、布局、布線到印刷電路板生成后的適配器的焊接,經過近兩個月的不懈努力,目前已完成近50個各類集成電路的測試程序開發工作。此外,還積極開展國內無法檢測篩選的動態存儲器SDRAM測試程序開發工作,目前已在T2000上完成三種SDRAM測試程序的開發,并完成十多批、近2000只SDRAM的復驗篩選工作,為三院型號用集成電路可靠性保障工作提供更多更好的技術服務和支持。(文/張金鳳)

            

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