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          二院201所靜態參數測試獲重要突破

          發布時間:2015-09-01    信息來源: 中國航天科工二院

            近期,中國航天科工二院201所首次實現了直接數字式頻率合成器專用芯片靜態參數測試方法,攻克了此類集成電路在自動測試系統上其靜態參數不能測試的問題。并且將其應用能力延伸至其他正弦輸出信號芯片的相關靜態參數的測試,填補了此領域的空白,為DDS專用芯片在武器裝備中應用的質量保障作出了貢獻。

            直接數字式頻率合成器(簡稱DDS)專用芯片在航天產品之中應用甚廣,但其靜態參數測試問題一直是項難以攻克的挑戰。使用傳統測試方法測試開發人員無法解決DDS專用芯片的靜態參數測試問題,為航天產品的質量和可靠性帶來了風險。而此次針對DDS專用芯片靜態參數測試方法的深入研究,成功探索研發出可行方案,形成一條切實可行的測試途徑。該方法具有很好的實際應用可行性,不僅適用于DDS專用芯片的測試,還可應用于其他正弦輸出信號芯片的相關靜態參數的測試,無疑對航天產品的質量保障起到了積極的推動作用,為航天產品任務的順利完成保駕護航。(文/胡迎茜)

            

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